超声波测厚仪UT200

• 采用PE、IE、测试三种测量模式，可穿越涂层进行精准测量厚度

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•  采用高精度计时芯片和V-PATH校准模型，测量范围广，测量精度高

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•  可对测量信息进行完整的储存，包括厚度测量值、测量声速及时间信息

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•  显示分辨率为0.01mm或0.1mm(可选)

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•  液晶显示对比度可调，且具有LED背光显示，可在各种光线环境下使用

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•  配备上位机软件，方便各项数据读取

         本测厚仪采用界面回波与底面回波差(IE)测厚原理和脉冲反射(PE)超声波测量原理，能穿越涂层对产品厚度进行测量，同时也配置了测试功能，能检验贵重金属内部是否掺假并鉴定纯度，主要用于金条、银条和金币、银币等贵重金属的鉴定。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精准测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

  

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